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產(chǎn)品型號(hào)：HOTMOS-1000廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2024-07-16訪 問(wèn) 量：3157相關(guān)文章
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子,航天 |
半導(dǎo)體微量光子檢測(cè)顯微鏡
半導(dǎo)體微量光子檢測(cè)顯微鏡
產(chǎn)品特征參數(shù)
軟件圖像處理功能
8寸高壓手動(dòng)氣浮探針臺(tái)
紫外、可見(jiàn)光、紅外顯微光學(xué)系統(tǒng)
2倍、5倍、10倍、20倍與50倍紅外物鏡
400 -1000 nm 或900-1700 nm響應(yīng)波長(zhǎng)
支持3000 V高壓偏置
相機(jī)與源表的一體化控制程序
應(yīng)用方向
GaN與SiC 基功率器件
的漏電“熱點(diǎn)"定位
GaN基LEDs與結(jié)型探測(cè)
器的漏電“熱點(diǎn)"定位
Si基MOSFET與IGBT等功
率器件的漏電失效“熱
點(diǎn)"定位
GaAs基激光器光分布與
漏電“熱點(diǎn)"定位
常規(guī)的器件的靜態(tài)電學(xué)
參數(shù)測(cè)試。
相關(guān)系列有關(guān)于芯片失效與缺陷檢測(cè)都可以聯(lián)系我司，可看樣機(jī)測(cè)試
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